简介： 本发明提供一种基于ATE的FPGA配置芯片的测试方法，其特征在于，包括：设定器件工作电源、输入电平、输出电平、参考电平、负载电流的值，设定器件的上电次序，设定器件的地址信号、控制信号和数据信号的数据格式、时序、通道和控制寄存器的分配，分别进行全芯片的擦除与验证、单个扇区的擦除与验证、写状态寄存器验证、读芯片ID验证、全芯片存储单元的读写功能验证、写保护验证、直流参数验证以及交流参数验证。本发明提出的基于ATE的FPGA配置芯片的测试方法，基于T5385ES超大规模集成电路存储器测试系统，针对EPCS16SI8N编写专用的测试图形，完成对EPCS16SI8N的测试，检测其可能存在的失效模式。