简介： 本发明公开了一种SRAM电磁抗扰度的片上测量方法和系统，利用电磁干扰检测模块的信号的周期性不受封装影响的特点，将内部电源Pad的干扰幅度转换成周期性的信号，通过检测该信号的频率就可以表征电源电压干扰幅度ARFI。并且通过功能测试模块就可以产生SRAM读、写操作的测试向量，并且判断SRAM受扰的失效情况。主要还会提供一个反馈信号，控制环形振荡器的开关状态，降低环形振荡器的功耗，将SRAM不同工作状态读或者写分开进行抗扰度测试，互不影响。