简介： 本发明公开了一种应用于集成电路的测试探针卡，包括探针座和检测电路板，探针座上成型有探针孔，探针孔内插接有探针，探针包括中部的止挡部，止挡部的上端面检测杆，检测杆的上端露出探针座的上端面，其特征在于：止挡部的下端面成型有竖直的外螺纹套，外螺纹套的内孔内插接有倒置的T型导向杆，T型导向杆上插套有下永磁套，外螺纹套上插套有上永磁套,上永磁套下端面的磁极和下永磁套上端面的磁极相同，T型导向杆内插接固定有导电体，导电体由圆柱形的碳刷头和碳刷柱组成，碳刷头抵靠在外螺纹套的内孔壁上，碳刷柱的下端露出T型导向杆的下端面抵靠在检测电路板上。它结构简单，组装方便，能避免因弹簧机械疲劳失效而造成的接触不良。