简介： 本实用新型提供了一种继承性大变形光纤测试结构，包括：多根测试光纤，每根测试光纤外接测试设备；设置两个固结区将测试光纤直接固定在检测对象上，或者先固定在测试光线载体上，测试光线载体再固定在检测对象上；所有测试光纤在检测区域内长度不同Li≤Li‑1（1+δ），δ作为光纤有效测试应变量。测试原理为：第i根测试光纤Gi即将失效时，第i+1根测试光纤Gi+1进入有效测试状态，大变形由继承方式获得。本实用新型结构简单，稳定性好，检测精度高，结构成本及其实施成本低，实施过程简单，有极大的应用前景。