简介： 本发明公开一种存储器测试方法、装置、存储器、设备及可读存储介质。所述方法包括：对存储器中的各存储单元进行保持时间测试，以分别获得各所述存储单元的保持时间；确定本次获得的各所述存储单元的保持时间是否不小于预设的时间规格；当各所述存储单元的保持时间不小于所述时间规格时，统计已执行的保持时间测试的当前测试次数；当所述当前测试次数小于预设测试次数时，进入下一次所述保持时间测试。根据本发明提供的存储器测试方法，可精确地检测到失效存储单元，增大了存储器测试的覆盖率，降低了后续封装测试过程中存储单元发生边缘失效的风险，保证了存储器的可靠性。