简介： 本文中描述微电子装置测试以及相关方法、装置和系统。装置可包含存储器阵列，所述存储器阵列包含某一数目的行和某一数目的列。所述存储器装置可进一步包含耦合到所述存储器阵列的电路。所述电路可经配置以对所述数目的行中的每一行执行测试操作以检测：所述数目的行中的第一行的第一失效；以及与所述数目的行的行集合相关联的额外失效集合。所述电路还可经配置以确定所述行集合是否邻近于所述第一行。此外，响应于确定所述行集合邻近于所述第一行，所述电路可经配置以产生指示所述数目的列中的列的失效的信号。