简介： 本发明涉及漏电检测技术领域，公开了一种可控硅故障自测试方法、电路、连接器及电器设备。本发明技术方案通过可控硅测试控制模块接收半波整流电路的交流同步信号，判断所述交流同步信号的交流幅值小于零时，开始对可控硅进行检测；在第一预设时间内输出开启信号至可控硅的受控端，以使所述可控硅导通，获取第一目标电压；在第二预设时间内输出开启信号至所述可控硅的受控端，以使所述可控硅导通，获取第二目标电压；根据第一目标电压及第二目标电压计算差值与阈值比较，判断所述可控硅是否失效，在所述可控硅失效时输出故障信号警示用户，实现了漏电检测电路中可控硅自检测，不需要人为控制检测。