简介： 本发明属于光学元件性能测试技术领域，公开了一种表征塑料光学元件膜层附着力的测试方法及测试装置，其中的一种表征塑料光学元件膜层附着力的测试方法，包括以下方法：提供一长条状且与待表征光学基片材质相同的陪镀片，陪镀片具有适于镀膜的镀膜面；将陪镀片的一端固定且另一端悬空，使其呈悬挑状态；在陪镀片的上方设置光源和CCD信号采集器，CCD信号采集器位于光源光经陪镀片上膜层反射后的反射路径上。本发明可适用于对PC、PMMA等塑料光学元件的薄膜附着力的评价和测试，为光学注塑和镀膜工艺提供一种新的评价视角，有望减少产品膜层起泡、脱落等失效现象的发生。