简介： 本发明提供一种基于器件端的不良光器件电容元件漏电测试系统，包括：电压表（3），电流表（7），可变电阻集以及接收光器件，其中电流表与电压表一端均接地，电流表的另一端与可变电阻集连接，可变电阻集另一端与接收光器件连接，接收光器件包括串联连接的VCC电容（2）、跨阻放大器（1）及RSSI电容（10）和探测器（4），RSSI电容一端与可变电阻集连接，VCC电容一端接地，另一端分别连接跨阻放大器以及电压表连接，探测器一端与跨阻放大器连接；可变电阻集为电阻形成的串联或并联电路，可变电阻集的电阻可调，针对不同产品对匹配电阻要求不同，通过调节电压值以及电流值的变化判断接收光器件内是否发生电容失效。还公开了对应的测试方法。