简介： 本发明公开了一种实现存储器测试仪提高同测数的方法，包括：1）通过截取探针台与存储器测试仪之间的通讯信息，实现将探针台上的同测数信息转换为存储器测试仪所拥有的同测数信息，并发送给存储器测试仪；2）存储器测试仪采用其原有的同测数进行测试，测试时采用应用同测与系统同测相结合的方法，对实际翻倍后的同测数量的芯片进行测试；3）获得测试结果；4）将实际物理芯片失效情况组合为存储器测试仪同测数信息包，在存储器测试仪与探针台通讯时，再将存储器测试仪同测数信息包拆分为探针台上同测数信息。本发明实现系统芯片同测数扩展为更多的芯片同测，加快测试速度，节省测试费用，降低生产成本。