简介： 外部测试装置系被使用以仿造一内部BIST测试,因此使获取或产生详细测试结果为可能。通过在测试时间实时仿真BIST测试序列,外部测试器可能监控自BIST之一输出且决定失败发生的确实位置。外部测试器可能产生一位失败映像指示是否每一内存位置通过或未通过BIST测试。