简介:
本公开实施例公开了一种测试样品的制备方法。所述方法包括:提供包括失效区域的待处理结构;其中,所述待处理结构包括:多级台阶,覆盖所述台阶的介质层、位于所述台阶表面上方且设置于所述介质层中的接触插塞、以及贯穿所述台阶的虚拟沟道柱;沿相交于所述多级台阶所在斜面的预设方向,朝向所述台阶减薄所述待处理结构,以形成预处理样品;其中,所述预处理样品包括所述失效区域;沿所述预设方向,所述预处理样品表面残留的所述接触插塞的厚度大于或等于第一预设厚度;去除所述预处理样品表面残留的所述介质层,以显露所述虚拟沟道柱,形成所述测试样品。
本公开实施例公开了一种测试样品的制备方法。所述方法包括:提供包括失效区域的待处理结构;其中,所述待处理结构包括:多级台阶,覆盖所述台阶的介质层、位于所述台阶表面上方且设置于所述介质层中的接触插塞、以及贯穿所述台阶的虚拟沟道柱;沿相交于所述多级台阶所在斜面的预设方向,朝向所述台阶减薄所述待处理结构,以形成预处理样品;其中,所述预处理样品包括所述失效区域;沿所述预设方向,所述预处理样品表面残留的所述接触插塞的厚度大于或等于第一预设厚度;去除所述预处理样品表面残留的所述介质层,以显露所述虚拟沟道柱,形成所述测试样品。