简介： 一种基于最小二乘支持向量机的晶体谐振器贮存寿命预测方法，该方法有四大步骤：步骤一：分析晶体谐振器在长期贮存过程中退化机理，获得主要退化机理对参数变化的影响，确定晶体谐振器的退化敏感参数；步骤二：设计并开展晶体谐振器加速贮存退化试验，对选定的敏感参数进行测量，定期采集试验数据；步骤三：利用最小二乘支持向量机理论处理试验数据，建立在不同加速应力水平下该敏感参数的退化模型；步骤四：建立正常应力下的晶体谐振器参数退化模型，确定失效判据，预测晶体谐振器的贮存寿命。本发明解决了在预测晶体谐振器贮存寿命时遇到的小样本、非线性等实际问题，简化了计算的复杂性，提高了收敛速度和精度，具有较高的推广价值。