简介： 公开了直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法，方法中，测定直流自愈式金属化薄膜电容器试验前电容C0和试验电压Ui，进行老化试验，每间隔预定时刻测量直流自愈式金属化薄膜电容器的电容以记录不同时刻的电容值Cx及相邻测量之间的电容差ΔC；拆解直流自愈式金属化薄膜电容器获得薄膜电容器芯子；逐层拆解薄膜电容器芯子获得老化后的内部薄膜试样；统计多段试样中金属电极损失掉的面积获得不同位置处面积损失数据，对数正态分布分析面积损失数据获得拟合结果以计算平均每击穿点损失的金属电极面积Sn，失效概率Φ和寿命t在威布尔坐标纸上绘制图像获得电容器的寿命受到局部金属化薄膜自愈特性影响的模型。