简介： 本实用新型公开了一种电子设备的测试装置,其包含一可输入测试数据和功能设定的输入单元,一与该输入单元和该电子设备连接且接收所述测试数据及功能设定的控制单元,一储存由该控制单元传来的测试数据的存储单元,一与该电子设备和该存储单元连接的反馈单元,且该所述控制单元可根据该功能设定,自动地将储存在该存储单元的测试数据传至电子设备进行测试,并可经由反馈单元将电子设备的测试结果回传给存储单元,以供测试人员分析电子设备功能失效之原因。本实用新型所述测试装置操作容易,且方便,大大提高了测试效率。