简介： 本发明公开了一种基于自振荡回路的电路老化测试方法，其特征是：根据静态时序分析和路径间相关性，选取待测电路中的老化特征通路集合T；保持老化特征通路集合T中各条待测路径上具有奇数次逻辑非，形成自振荡的回路；采用固定型故障的测试生成方法，生成测试向量，激发自振荡回路，产生测试电平信号；通过计数器采样自振荡回路，获取电路老化特征值，度量待测电路老化程度。本发明可以以较低的功耗精确度量电路的老化程度，为电路老化失效防护提供准确的依据。