具自测试功能的众核计算电路、及其测试方法、装置
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具自测试功能的众核计算电路、及其测试方法、装置
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简介: 本发明公开一种具自测试功能的众核计算电路、及其测试方法、装置,所述众核计算电路包括:处理引擎模块,包括N个处理引擎单元,其中,N为正整数;存储模块,包括M个第一存储单元,其中,M为正整数;片上总线,所述片上总线包括L个通道,其中,L=M*N;自测试模块,包括:至少一个内建自测试单元;第一选择器,所述内建自测试单元通过所述第一选择器可选择性地连接至所述片上总线;M个第二存储单元;及M个第二选择器,每个所述第二存储单元通过一个所述第二选择器与一个第一存储单元并行地、可选择性地连接至所述片上总线。本发明可定位并标记出众核计算电路的失效单元,以便及时对失效单元进行修复。
本发明公开一种具自测试功能的众核计算电路、及其测试方法、装置,所述众核计算电路包括:处理引擎模块,包括N个处理引擎单元,其中,N为正整数;存储模块,包括M个第一存储单元,其中,M为正整数;片上总线,所述片上总线包括L个通道,其中,L=M*N;自测试模块,包括:至少一个内建自测试单元;第一选择器,所述内建自测试单元通过所述第一选择器可选择性地连接至所述片上总线;M个第二存储单元;及M个第二选择器,每个所述第二存储单元通过一个所述第二选择器与一个第一存储单元并行地、可选择性地连接至所述片上总线。本发明可定位并标记出众核计算电路的失效单元,以便及时对失效单元进行修复。
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标签:失效分析
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