简介： 本发明涉及一种集成电路OS测试机，包括控制单元、电源模块、测试插座、扫描测试模块、指示模块及控制按钮；测试插座用于插放IC；扫描测试模块包括电流发生电路、开关控制电路以及电压测试电路，电流发生电路用于通过测试插座对IC的管脚提供定值电流，开关控制电路用于控制IC的管脚接地，电压测试电路用于测试管脚的电压；控制按钮用于控制测试机在扫描识别模式和测试模式间切换；控制单元用于在扫描识别模式下得到良品IC的管脚分布表，及在测试模式下对待测IC进行开/短路测试并将失效信息输出给指示模块进行失效信息指示。本发明还涉及一种集成电路OS测试方法。本发明只需在开始时放上良品IC进行扫描识别，后续即可对待测IC进行连续测试。