简介： 本发明适用于电子产品的测试技术领域，公开了一种低温测试装置及测试方法。上述低温测试装置包括制冷剂供应装置、容器和温度探测装置，所述容器通过输入管连接于所述制冷剂供应装置，所述容器上还连接有与外界相通的输出管。上述测试方法包括以下步骤，将容器的底部抵压于待测试的器件上；制冷剂供应装置通过输入管将制冷剂输入容器中，增大制冷剂的流量进一步降低待测试器件的温度，直到所述器件失效并记录所述器件失效时温度探测装置读取的温度。本发明所提供一种低温测试装置及测试方法，其可以有效、方便、准确地对局部器件进行低温可靠性测试，测试精确度佳。