简介： 本发明公开了一种微控制器SOC内建IO映射测试装置，包括外部测试逻辑模块、微控制器内核、知识产权模块IP1、知识产权模块IP2、内部测试控制模块和IO控制模块。本发明的有益效果是：1、本方案可以高效地对微控制器SOC内部的集成IP进行测试。在微控制器SOC出现失效的时候，也可以在测试模式下对内部集成的IP进行失效分析。2、本方案能够改善微控制器SOC的测试效率，只需要增加极少的资源来实现内建IO映射测试逻辑，几乎不需要增加微控制器SOC的制造成本。