简介： 本发明公开了一种存储器故障诊断的可测试性电路，包括：控制电路，输入端和多个外加电压相连，输出端输出操作电压，操作电压由外加电压或其变化值得到；操作电压输入到存储器的电源电压端。存储器的故障诊断模式包括读取失效验证模式和写入失效验证模式。读取失效验证模式的写入和读取操作模式的操作电压分别具有第一和第二电压值。第一电压值大于第二电压值写入失效验证模式的写入和读取操作模式的操作电压分别具有第三和第四电压值。第三电压值大于第四电压值。本发明还提供一种操作电压变换电路。本发明能在存储器故障诊断过程为写入和读取操作提供所需要的不同操作电压，从而有利于进行读取失效验证和写入失效验证分析。