简介： 本发明公开了一种半导体激光器寿命测试装置,包括光学平台,光学平台上设有平行导轨和激光器水冷阵列;平行导轨上设有电动平移台,电动平移台上固定着积分球和功率探测PD,积分球通过光纤连接有光谱仪,光谱仪连接至工控机上;功率探测PD通过采集卡与工控机连接;激光器水冷阵列的旁侧设有温度采集模块,温度采集模块连接至工控机;电动平移台通过控制电缆连接平移台控制器,平移台控制器连接到工控机上。该系统可针对不同封装类型、不同功率及数量的激光器产品进行自动参数测试。在工作过程中自动对所测激光器产品的功率及光谱信息进行采集并记录,并可进行自动报表打印数据,形成测试报告,为激光器产品失效分析及研究提供依据。