简介： 本发明公开了一种天线罩插入相位延迟测量方法，属于微波测量领域，该方法包括调整两个点聚焦透镜天线在天线罩上的焦斑位置相重合且两者成固定夹角；对矢量网络分析仪、点聚焦透镜天线A、点聚焦透镜天线B和稳相电缆进行预处理；设定测量条件下，矢量网络分析仪测量外表面加载金属反射层的天线罩的焦斑位置的S₂₁参数相位天线罩位置、设定测量条件不变，矢量网络分析仪测量内表面加载金属反射层的天线罩的焦斑位置的S₂₁参数相位通过插入相位延迟计算公式获得插入相位延迟的大小；本方法有效解决了现有透射法存在测量盲区以及现有反射法存在无法宽频测量、特定频率测量失效等问题，提供了一种无盲区、宽频带、高精度天线罩IPD测量方法，为天线罩IPD逐点精密测量提供了可行的工程化解决方案。