简介： 本发明属于半导体存储器老化测试技术领域，公开了一种半导体存储器老化测试核心板，根据上位机的参数配置实时产生测试向量，输出各种类型的测试信号、各种测试图形，并对测试信号进行延时调整、加强驱动、波形控制的处理，以及对电源信号进行补偿，产生更精准的测试信号的电源信号；提升了用户对测试波形的自定义能力和灵活性；测试核心板具有分区的存储器，将测试过程中实时对比测试的数据分区保存，通过分区存储的数据对失效DUT测试过程进行控制和失效分析，实现了老化测试中对单个DUT测试过程的控制和失效分析；通过存储器譬如DRAM提供的存储空间保存每颗DUT的每一个IO足够长的测试信息，从而能够让DUT厂商对各批次失效DUT进行统计分析，改善良率，提升产品可靠性。