简介： 本发明涉及测试装置技术领域，特别地涉及一种测试座以及测试设备。本发明提供的测试座，测试座包括第一测试座板、第二测试座板、第一密封件、第二密封件以及支撑框。第一测试座板、第二测试座板以及支撑框构成密封空腔，同时，分别在第一测试座板以及第二测试座板的外侧设置第一密封件以及第二密封件，进一步加强密封空腔的密封性能。故可有效地将外界环境与测试座内部隔离，使得处于密封空腔内的探针等测试元件处于密封的环境中，使得本申请提供的测试座在盐雾、尘土环境条件下的检测时，可有效地保护密封空腔内的探针等测试元件，避免机械零部件腐蚀、磨损失效，避免电路短路或断路，进而提高芯片的测试精度。