简介： 一种闪存类电子产品的寿命预测方法包括如下步骤:(1)对产品失效模式等失效信息和产品结构、工艺等器件信息进行分析,确定潜在失效机理及其失效物理模型;(2)确定影响失效机理的环境应力;(3)确定失效物理模型中的相关参数;(4)对产品实际经历的环境应力进行监测和记录;(5)将环境应力变化区间划分成合适的小区间,并统计各个小区间内的产品经历时间;(6)利用失效物理模型分别计算不同应力水平下的预计失效前时间;(7)分别计算产品在每个应力水平下由于不同失效机理造成的寿命损伤;(8)分别计算产品由于不同失效机理造成的寿命累积损伤;(9)预测不同失效机理下的产品剩余寿命;(10)预测整个产品的剩余寿命。