简介： 本发明公开了一种提高Serdes IP晶圆测试效率的方法，包括以下步骤：S10：对晶圆测试的MAP图进行实时读取，记录相应坐标、测试结果以及失效分类信息；S20：分析是否存在某个site测试明显比其他site失效要多，或者某个site有连续的失效，若存在，则一旦site间差异失效数或连续失效数超出预设数量时进行该项目失效报警；S30：针对区域失效的特点，设计相应的算法完成统计，通过该方法的实现可以自动快速的对测试结果进行分析，针对Serdes IP对测试硬件较敏感的特性，能够及早的发现并排除隐患，减少误测，以及对区域失效能快速的提取分析，大大减少人工数据分析的工作量，提高Serdes IP晶圆测试生产的效率。