简介： 本发明公开了一种安全类芯片的测试防护方法和装置，其中，该方法包括：步骤A：对外部测试设备输入的软件验证码进行验证，验证通过则在NVM中写入软件验证成功标志位；步骤B：对外部测试设备输入的硬件验证码进行验证，验证通过则检测NVM中的软件验证成功标志位是否有效，如果有效，则进入芯片测试模式。本发明的安全类芯片的测试防护方法和装置，可以兼顾量产测试、安全防护及失效分析三方面的需求，安全系数高。通过软件验证与硬件验证相结合的方式来启动测试模式，可极大增加破解难度。“软件验证码”及“硬件验证码”在芯片发行阶段写入，且不会对软件设计人员与硬件设计人员开放，能有效规避设计人员泄密的风险。