简介： 本发明提出一种继承性大变形电阻应变片测试结构及测试方法，在测试区L两端设两个固结区，将多个电阻应变片Y_i两端固结在测试对象上；在测试区L范围内，每个电阻应变片Y_i的长度为L_i‑1＜L_i≤L_i‑1(1+δ)（i=2,...,i,...n)，δ表示电阻应变片有效测试应变量程。当第i个电阻应变片Y_i失效时，第i+1个电阻应变片Y₁₊₁进入测试状态；变形测试数据为应变片Y_i数据叠加Y_i起始点同一时间点的Y_i‑1末端数据，以此类推完成大变形检测。本发明将电阻应变片小变形测试优势拓展到大变形测试领域，能够提高大变形检测精度、拓展大变形检测范围，有很好的应用市场前景。