简介： 本发明公开了一种半导体激光器的工作性能检测技术，具体地说是一种半导体激光器的测试系统及测试方法，属于半导体光电器件的制造技术领域。它包括待测光器件以及用于放置待测光器件的高低温循环箱，待测光器件与一个能够为待测光器件提供电流的电流源连接，待测光器件还与一个能够测试其出光功率的光功率计连接，电流源和光功率计的输出信号端均连接到一台计算机上。采用上述的结构和方法后，可以方便、有效、迅速地进行检测，预先判定一个激光器的工作稳定性和失效模式，从而大大缩短了检验的周期和降低了检验的成本，同时对生产过程进行有效的管控，将产品成本降到最低，同时保障了客户利益，其测试的方法简单方便，测试系统搭建的成本低。