简介： 本发明公开了用于监测柱色谱性能的方法。这些方法可以包括获取由色谱系统在样品纯化和/或分离期间生成的一条或多条色谱图紫外(UV)迹线；以及用正交偏最小二乘法(OPLS)模型分析获取的一条或多条色谱图UV迹线，从而允许在柱失效之前检测到柱劣化并且定量分析该一条或多条色谱图UV迹线中的UV信号。