简介： 本发明公开了一种电致变色器件的性能测试方法，涉及电致变色器件的性能测试技术领域。该方法包括采用SPM技术对与外接电源相连的电致变色器件的性能进行分析测试；得到测试数据并进行数据处理。该方法采用了SPM技术，基于原子力显微镜技术，耦合了电、磁、电化学和机械性能检测的多方位材料性能检测技术。采用多功能扫描探针显微镜技术，综合检测电致变色器件的多种界面性能。可实现对电致变色器件多种性能在微纳米尺度上的直接观察和动态检测，为探索电致变色器件的失效机制和改善器件性能提供一种有力的方法和工具，加速电致变色器件的大规模应用。