简介： 本发明提出一种微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法，包括下列步骤：对微电路进行老炼前电测试，记录产品测试数据；对该批次微电路按照老炼条件进行老炼试验；提取老炼前电测试的产品测试数据，参照电参数允许变化范围动态修改测试程序的极限值；对该颗成品微电路进行老炼后电测试，根据修改后的测试项条件判断结果并生成参数偏移量计算结果进行提交。本发明提出的微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法，通过动态修改测试程序极限值的实现，解决在量产过程中保证老炼后时效性的前提下，进行老炼参数偏移量计算、失效分析，并实现自动量产，提高产品质量和量产效率。