简介： 本发明涉及一种改进的随机存取内存自检方法，包括以下步骤：步骤S1，将待测内存划分成多个不叠加的内存段；步骤S2，每段内存采用Abraham算法进行自检；步骤S3，预先计算好待测内存中各段测试数据异或结果的CRC值；步骤S4，开始内存测试之前，将所有测试数据依次填入待测内存；步骤S5，每段内存测试之后，计算一次当前各段内存中数据异或结果的CRC值；步骤S6，在线计算的CRC值与预算计算好的CRC值做比较，若相同则认为本段内存与其他内存无耦合，继续进行下一段内存的测试，重复步骤S5，若不同则认为发现耦合，算法终止。与现有技术相比，本发明具有发现RAM分段测试后各段内存之间耦合失效的情况并提高RAM自检执行效率等优点。