简介： 本发明提供一种非易失性存储器中存储单元的寿命自检方法及系统，方法包括：控制电路接收主机发送的操作指令，触发针对目标存储单元的VT自检指令，并传递给VT自检电路；所述VT自检电路获取所述目标存储单元当前的电压Vt，若所述电压Vt小于Vth阈值，则将所述电压Vt由模拟信号转换为数字信号，并传递给寿命计算模块；所述寿命计算模块计算所述电压Vt的数字信号的哈希值作为索引号，从预设的存储寿命哈希表中查找所述索引号对应的寿命值，并反馈给所述控制电路；所述控制电路将查找到的寿命值发送给所述主机。本发明可以解决现有技术中非易失性存储器的存储单元失效时间不确定，容易导致数据丢失的问题。