简介:
本发明描述了用于检测间歇性电通路的测试。可使所施加的电流反向以全面测试工件的所有部件。可以采用各种测试方法。这些方法可以包括:时域反射法(TDR);机械搅动;暗电流/电压测试(暗IV),即使用所施加的电对工件进行电测试;以及热成像法,例如红外热成像法。可将搅动期间感测到的电压与基准电压进行比较以确定是否存在间歇性失效。
本发明描述了用于检测间歇性电通路的测试。可使所施加的电流反向以全面测试工件的所有部件。可以采用各种测试方法。这些方法可以包括:时域反射法(TDR);机械搅动;暗电流/电压测试(暗IV),即使用所施加的电对工件进行电测试;以及热成像法,例如红外热成像法。可将搅动期间感测到的电压与基准电压进行比较以确定是否存在间歇性失效。