简介:
本发明公开了一种检测柔性电子器件导电性能的装置,该装置包括基座、位移台、电动机、探针、弯曲机构、显微镜、显示器、源表和控制器,所述的位移台包括第一位移台和第二位移台,分别设于所述基座上的左右两端,所述弯曲机构的左右两端分别与两个位移台相接,且所述的探针设于每个位移台上;所述的电动机包括第一电动机和第二电动机,设于所述基座的左右两侧,且分别与所述第一位移台和第二位移台相接;所述基座的中部后侧设有显微镜安装座,所述的显微镜设于所述的显微镜安装座上;所述的探针与所述源表相接,所述源表、显微镜、电动机和显示器均与所述控制器相接。本发明可实时获取电迁移失效时的判定参数,最终有效实现电迁移失效的预判和控制。
本发明公开了一种检测柔性电子器件导电性能的装置,该装置包括基座、位移台、电动机、探针、弯曲机构、显微镜、显示器、源表和控制器,所述的位移台包括第一位移台和第二位移台,分别设于所述基座上的左右两端,所述弯曲机构的左右两端分别与两个位移台相接,且所述的探针设于每个位移台上;所述的电动机包括第一电动机和第二电动机,设于所述基座的左右两侧,且分别与所述第一位移台和第二位移台相接;所述基座的中部后侧设有显微镜安装座,所述的显微镜设于所述的显微镜安装座上;所述的探针与所述源表相接,所述源表、显微镜、电动机和显示器均与所述控制器相接。本发明可实时获取电迁移失效时的判定参数,最终有效实现电迁移失效的预判和控制。