简介： 本发明公开了一种薄膜封装Test key的制作方法和检测方法，S1：在玻璃基板上制备TFT驱动器，在制备TFT驱动器时，玻璃基板边缘中的衬底层与TFT驱动器中的SiNx层在同一层，即在制备TFT驱动器时，沉积在玻璃基板边缘的SiNx层形成衬底层，再在TFT驱动器制备像素定义层，像素定义层经过曝光显影蚀刻脱膜形成图案，然后再在像素定义层的开口处溅射一层阳极；S2：在步骤S1的基础上制备OLED发光器件，然后再在OLED发光器件上制备阴极，其中阴极包含Mg阴极和Ag阴极；S3：在步骤S2的基础之上沉积薄膜封装层。本发明可以高效和快速地检测出薄膜封装的OLED显示器是否失效，以及水氧侵蚀的程度，为后续维修和使用提供一个方向，并且在器件的开发方面具有重要意义。