简介： 本发明公布了一种基于开通电流斜率的半导体器件结温在线检测系统，其特征在于，包括电源电路，所述电源电路分别与门极驱动电路、电压与电流测量电路、电流斜率采集电路、信号处理电路、隔离电路、A/D采样电路和DSP控制器相连接，所述电源电路能够提供隔离供电；该在线检测系统依据半导体器件本身的温度敏感电参数：阈值电压。本发明具有很好的适用性，可实现低成本、简单、稳定、快速的获取半导体器件的实时结温，有效避免在系统中由于半导体器件结温过高而造成系统失效的经济损失以及可能的人员损伤。