简介:
本实用新型公开一种绝缘栅双极晶体管检测保护电路及高压变频器,该绝缘栅双极晶体管检测保护电路包括:绝缘栅双极晶体管退饱和检测支路,用于检测绝缘栅双极晶体管在开通状态下集电极和发射极之间的电压信号;所述光耦隔离支路,用于将所述绝缘栅双极晶体管在开通状态下集电极和发射极之间的电压信号的功率部分信号与控制部分隔离,并将所述电压信号转化为所述信号整形支路的输入信号;所述信号整形支路,用于将所述信号整形支路的输入信号中失真的信号进行修复,将修复后的电压信号发送给控制芯片。本实用新型的技术方案可以避免由于所述绝缘栅双极晶体管所在的驱动芯片HCPL‑316J故障,无法上报短路故障,而引起IGBT失效。
本实用新型公开一种绝缘栅双极晶体管检测保护电路及高压变频器,该绝缘栅双极晶体管检测保护电路包括:绝缘栅双极晶体管退饱和检测支路,用于检测绝缘栅双极晶体管在开通状态下集电极和发射极之间的电压信号;所述光耦隔离支路,用于将所述绝缘栅双极晶体管在开通状态下集电极和发射极之间的电压信号的功率部分信号与控制部分隔离,并将所述电压信号转化为所述信号整形支路的输入信号;所述信号整形支路,用于将所述信号整形支路的输入信号中失真的信号进行修复,将修复后的电压信号发送给控制
芯片。本实用新型的技术方案可以避免由于所述绝缘栅双极晶体管所在的驱动芯片HCPL‑316J故障,无法上报短路故障,而引起IGBT失效。