简介： 本申请提供一种光耦继电器寿命的检测方法、装置、终端设备及存储介质，其中，光耦继电器寿命的检测方法包括步骤：确定待测光耦继电器的初始参数；在一定的温度和湿度条件下对待测光耦继电器进行加电偏置试验，过程参数并在试验过程中监测光耦继电器开启电压的退化情况；测试待测光耦继电器在加电偏置结束时的开启电压，并作为试验后的参数；根据初始参数、过程参数和试验后的参数构建退化模型；根据退化模型、初始参数计算待测光耦继电器退化至失效所需的时间。本申请能够实现便于检测光耦继电器寿命。