简介： 本发明公开了一种通信芯片的检测方法，包括，步骤A：读取被测通信芯片中的ID信息，分别检查被测通信芯片与供电电源的接触是否正常，通信芯片与信号发生单元的通讯是否正常；步骤B：读取供电电源的输出电流，并与理论电流进行比较；步骤C：运用信号发生单元，对通信芯片执行读写操作，以检测通信芯片的读写功能是否正常；步骤D：通过被测通信芯片按设定算法执行的结果，去判断通信芯片的内部寄存器是否失效；步骤E：通过信号发生单元对通信芯片输入功能信号，并判断通信芯片输出的功能数据是否与期望数据一致。其能通过信号发生单元输入功能信号对通信芯片进行功能测试，而能全面的检测通信芯片的性能。