简介： 本发明适用于测量技术领域，提供了一种电子设备的老化检测方法、系统、介质和设备，其中，电子设备的老化检测方法，包括如下步骤：将标准件与电子设备连接，所述电子设备上还设置有多个元器件，所述标准件用于对所述电子设备进行老化检测；根据所述标准件的失效率曲线，获取当前时刻所述标准件对应的理论值和实际测量值；根据当前时刻所述标准件的理论值和实际测量值之间的标准差值，来判断所述电子设备是否老化。通过本申请的方法，不需要获取电子设备中的各元器件大量的参数来判断电子设备是否老化，仅仅需要一个标准件即可判断，很大程度上简化了电子设备的检修流程，而且不需要改变电子设备的原有电路。