简介： 本申请公开一种精密检测装置和精密检测装置制造方法，其中精密检测装置包括：测杆,用于通过触碰的方式检测与待测对象之间的微间距；触感反馈组件，用于将所述微间距信息进行反馈；复位组件，用于当所述测杆与待测对象之间为非接触状态时，将所述测杆进行复位；其中，所述复位组件包括至少两个磁体。复位组件包括的至少两个磁体通过磁力复位而不是机械复位，可以防止复位卡顿，从而可以防止精密检测装置复位失效。