简介： 本发明提供了一种内存检测方法及装置，其中，方法包括：S0：确定待测内存中对应同一个失效数据位的待测内存颗粒的数量，以及确定每一个待测内存颗粒的位置参数；并根据待测内存颗粒的数量确定至少一个检测参数；S1：根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的一个检测参数；S2：根据选择的检测参数，修改待测内存的有效访问区域；S3：根据修改后的有效访问区域，访问待测内存，并形成访问结果；S4：判断访问结果是否为预设访问结果，如果是，则执行步骤S1；否则，执行步骤S5；S5：根据选择的检测参数，以及每一个待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒。通过本发明的技术方案，可更为准确的检测出内存的故障内存颗粒。