简介： 本发明涉及一种半导体分立器件贮存寿命特征检测方法和系统，包括以下步骤：获取试验样品，对试验样品进行失效检测并分类，得到合格样品集和失效样品集，对合格样品集进行贮存可靠性特征检测分析得到第一分析结果，对失效样品集进行失效分析得到第二分析结果，根据第一分析结果和第二分析结果得到试验样品的贮存寿命状态。通过对合格样品集进行贮存可靠性特征检测分析判断合格样品集中是否存在有贮存退化失效特征的试验样品，以及对失效样品集进行失效分析判断失效样品集中是否存在有贮存失效信息的试验样品，根据分析结果得到试验样品的贮存寿命状态，通过上述科学的贮存寿命考核方法，有效准确评估试验样品的贮存寿命状态。