简介： 本公开提供了一种存储器的检测方法、检测系统、计算机可读介质与电子设备，检测方法包括：向一目标字线连接的存储单元中写入第一电压，与相邻的至少一条其他字线连接的存储单元中写入第二电压；或者，向一目标字线连接的存储单元中写入第二电压，与相邻的至少一条其他字线连接的存储单元中写入第一电压；第一电压大于第二电压；向其他字线重复写入第一电压或第二电压；读取目标字线连接的存储单元，并判断各存储单元的读取结果是否等于其写入的第一电压或第二电压；若存储单元的读取结果是不等于其写入的第一电压或第二电压，则判断该存储单元漏电。能够将具有潜在双位元失效的芯片提前筛选出来。