简介： 一种对基于微处理器的电子系统进行测试和故障检查的方法和系统,它采用了存贮器仿真技术以及其它技术,以提供完全的功能测试和缺陷定位。它在感兴趣的总线周期期间,在预先选择的时间位置上可以产生良好分辨率的同步脉冲,以使完整的故障寻找缺陷隔离容易。其它特点包括用存贮器仿真技术的总线测试,用ROM的片选线来编码测试结果和在一个核心失效的系统中保持目标微处理器功能的技术。