简介： 本发明公开了一种基于多层感知器神经网络的电路良率分析方法，包括步骤：一、均匀分布采样：针对电路器件的各项工艺变化参数，采用均匀分布采样的方法得到总量样本；二、蒙特卡罗仿真：采用蒙特卡洛仿真方法对总量样本进行电路仿真，获得电路失效样本；三、重要性采样：统计电路失效样本各参数的均值，并将其作为电路失效区域的中心点，以该点为原点在电路失效区域进行高斯分布采样得到重要样本；四、多层感知器神经网络筛选：将重要样本输入预先训练好的多层感知器神经网络进行筛选，得到电路失效的采样点；五、电路良率计算：采用重要性采样公式计算出电路良率。本发明能够提供快速且准确的良率验证分析，在缩短项目周期的同时提升产品可靠性。