简介： 本发明公开了一种宇航用SiP器件的FMEA分析方法和系统，其中，该方法包括：根据宇航用SiP器件的组成结构，对宇航用SiP器件的各个模块进行层次定义；对宇航用SiP器件的各个模块进行潜在失效模式分析，确定宇航用SiP器件的各组成模块存在的潜在失效模式；对各潜在失效模式进行失效原因和机理分析，得到第一分析结果；对各潜在失效模式进行故障影响和严酷度分析，得到第二分析结果；根据第一分析结果和第二分析结果，输出FMEA分析结果表。本发明提供了一种适合宇航级SiP器件应用的FMEA分析方法。通过对SiP进行单元分解，并对每一潜在故障模式进行分析，从而得到该款器件的FMEA的分析结论，为元器件质量保证工作提供了有效的技术支撑。